Santec 扫频光子分析仪 SPA-110 是基于光频域反射（OFDR）技术的下一代反射仪，为 Santec 可调谐激光器的多功能扩展模块。该系统可对紧凑型、复杂光学元件进行全面分析，提供反射率、透射率及事件位置的详细数据。

其采用 OFDR 技术，在空间域检测光纤器件的背向反射和透射特性，生成的轨迹与光时域反射仪（OTDR）类似，但分辨率和精度显著提升。相较于前代产品，SPA-110 优化了反射灵敏度，扫描范围从 5m 扩展至 30m，支持在测量设置中添加光信号调理设备，能对硅光子电路、光纤元件等小型器件进行更全面的特性表征。

产品提供两种配置：O 波段（1260 nm - 1350 nm）和 CL 波段（1480 nm - 1640 nm）。

应用领域：

• 硅光子波导分析

• 自动化硅光子晶圆对准

• 光学元件反射率及分析

• 波长相关元件表征

• 光纤连接器和电缆组件配接分析

• 高分辨率反射率分析和长度测量（5微米）

产品特点：

• 测量光学元件的插入损耗（IL）和回波损耗（RL）

• 可基于Santec可调谐激光器进行配置

• 指定感兴趣区域对光学器件的事件/特性进行分析

• 为轨迹的不同区域定义多个折射率

• 具有80dB动态范围的光谱分析

• 反射事件的光谱分析

• 对反射事件灵敏度低，几乎无死区

• 测量波导衰减

• 测量范围可达30米

核心功能

• 自定义感兴趣区域：选择轨迹的特定部分，自动分析该区域内的插入损耗和回波损耗。

• 多折射率设定：分析穿过不同介质（如光纤 - 空气 - 硅）的信号时，可在单条轨迹中指定多个折射率。

• 光子集成电路（PIC）和波导分析：凭借市场领先的分辨率，可观察 PIC 波导内部细节，分析元件损耗、反射率及波导衰减。

• 波长相关损耗测量：在可调谐激光器全量程内测量透射波长相关损耗，动态范围超 80 dB，无需增益切换，单次扫描即可完成，节省时间。

典型应用举例：硅光芯片测试

适用于光子集成电路（PIC）和波导分析

凭借市场上最高的分辨率，用户可以观察光子集成电路波导内部的细节，并分析元件损耗、反射率和波导衰减。

光学 / 电气规格

环境条件

通用特性

测量性能

反射模式

透射模式

接口规格

电源规格

物理规格

备注说明

1.所有规格均基于设备预热 1 小时后测得。

2.仅在使用保偏光纤（PMF）测量时，相关规格方可保证。

3.O 波段扫描范围为 90 nm，CL 波段扫描范围为 160 nm。

4.重复性指标要求温度变化 < ±1℃/hr。

5.插入损耗的动态范围指标为背向散射未达噪声底前的双向损耗。

包装清单

• SPA-110 扫频光子分析仪主机

• 交流电源线

• USB A 转 B 线缆

• BNC 线缆

订购说明

1. 分析仪配置（型号：SPA-110- - -P）

2. 保偏光纤（PMF）跳线

需单独订购保偏光纤跳线，用于连接可调谐激光器与 SPA-110。订购代码需根据激光器输出端的连接器 / 研磨类型，以及 SPA-110 输入端的连接器 / 研磨类型确定，具体规格如下：

原厂介绍

1979 年创立于日本的全球性光电子企业Santec，在光通信、医疗、计量等领域成果颇丰。Santec的业务涵盖光通信、医疗、计量等多个领域。在光通信方面，提供包括可调谐激光器（如 TSL 系列）、可调谐滤波器（如 OTF 系列 ）等在内的多种光纤测试系统和光学组件，产品型号丰富，能满足不同市场需求。在医疗领域，ARGOS® 利用扫频源光学相干断层扫描（SS-OCT）技术，为白内障手术提供关键参数测量，助力精准选择人工晶状体，提升患者术后生活质量。在计量方面，基于 SS-OCT 的 3D 传感和成像技术可用于生物样本成像和机械厚度测量。