产品特点

    •    自主研发、具备自主知识产权的国产仪器；

    •    精确测量插损/群延迟/偏振相关损耗等参数；

    •    测量光谱范围高达100nm（1525-1625nm），最大测量长度360m；

    •    波长分辨率高达0.4pm，波长精度±0.5pm；

    •    损耗测量动态范围>60dB，测量精度±0.05dB；

    •    快速系统校准，直观易用的操作和处理界面。

测量原理

自校正光矢量分析技术(Self-calibratedOpticalVectorAnalysis)基于调频连续波（FMCW）干涉原理，通过正交偏振问询与检波获取待测器件的偏振传输矩阵（琼斯矩阵），进而解得器件的插入损耗，群延迟，偏振相关损耗，偏振模式色散等光矢量参数。

应用场景

    •    实现集成光子芯片,无源光纤器件及光纤光路/链路的插入损耗、群延迟及偏振相关损耗等光学参数的精密测量;

    •    实现对高Q值光学器件的自由光谱范围,谐振峰线宽等光谱参数的精密表征。

仪器规格

1. 调谐光源的参数依据标配型号Santec-570P给出；根据客户需求，可选配或经评估后更换型号；

2. 测量仪额定功率功率包括仪器本体与上位机（标配型号Think Book 16P+）的功率。

测量方法

测试案例

C波段密集波分复用器全通道质量检测密集波分复用（Dense Wavelength Division Multiplexing, DWDM）器件是光纤通信系统中的核心无源器件之一，主要用于在单根光纤中实现多波长信号的复用与解复用 。DWDM 器件对幅度响应、相位特性以及通道间一致性具有严格要求，其性能直接决定了系统的传输容量、信号完整性和传输距离。

本案例中，使用SOVA-S光矢量分析仪，以200MHz频率分辨率，>60dB动态范围，表征了该DWDM样品共15个通道的插入损耗、群延迟、偏振相关损耗和偏振模色散。

测试结果

测试案例

Q > 10⁶ TFLN微环谐振腔样品性能表征

本案例中，使用OVA-P的高分辨率模式对TFLN（薄膜铌酸锂）微环谐振腔样品进行性能表征，通过高分辨率测量模式精确获取微环谐振腔的谐振光谱特性，清晰分辨并测量了谐振峰劈裂现象，从而评估器件的模式耦合行为、结构对称性及其制备工艺对谐振性能的影响。

测试结果