产品概述

圣德科 PLM-100 偏振相关损耗测试仪，基于本公司 BRM 系列产品成熟稳定的验证技术实现了性能全面升级。通过优化光源隔离度、电路系统、光学设计与持续激光功率参考技术，设备测试性能大幅提升，可实现高重复性、高稳定性的测量。

基础型号可完成偏振相关损耗（PDL）、插入损耗（IL）及平均插入损耗测试，测试分辨率达 0.001 dB，偏振相关损耗测试精度最高可达 **±(0.005 dB + 被测 PDL 值的 2%)**，行业领先。选配回波损耗（BR）测试功能后，可实现低至 - 75 dB 的回波损耗测试，测试精度为 ±0.4 dB。

本设备最多可支持 4 路内部光源（1310/1490/1550/1625 nm）与外部光源输入（1260~1650 nm）的任意组合，可选配双输出端口，最大化适配测试场景的灵活性需求，其他波长可按需定制。

设备配备直观的触摸屏，大幅简化操作流程；同时支持通过以太网（Ethernet）或 USB 接口进行远程控制，可搭配本公司免费的 GMS 软件实现自动化测试。

产品特性

•    超稳定、高精度的偏振相关损耗（PDL）、回波损耗（BR）与插入损耗（IL）测试

•    最多支持 4 路内置激光器 / 外部光源输入

•    支持 4 态或 6 态穆勒矩阵测试算法

•    测试分辨率最高可达 0.001 dB

•    偏振相关损耗单轮测试时长低于 1 秒

应用领域

•    光学元器件的插入损耗（IL）、偏振相关损耗（PDL）、回波损耗（BR）测试

•    来料检验

•    质量保证（QA）与研发验证测试

合规认证

•    UL/CSA 61010

•    IEC 61010

•    IEC 60825-1（1 类）

•    FCC Part 15（A 类）

•    EN 61326（A 类）

PLM-100 光学 / 电气规格参数

备注：

1、该精度为 6 态穆勒矩阵模式下指标；4 态模式下精度为 ±(0.005 dB + 被测 PDL 值的 5%)

2、基准测试条件为 1550 nm 波长，其他波长下精度偏差为 ±0.01 dB

3、该时长为 4 态模式下测试数据；6 态穆勒矩阵模式下测试时长为 1.2 s

PLM-100 机械 / 环境规格参数

订购方案与说明

1. PLM-100 偏振相关损耗测试仪型号配置规则（单模版本）

2. 配件选配

标准装箱清单

1. 1、PLM-100 主机 1 台
2. 2、SD-CAP 探测器防尘帽 1 个
3. 3、SD-FC FC 型探测器适配器 1 个
4. 4、FC/APC-FC/UPC 3 m 校准跳线（仅选配回波损耗 BR 功能机型配备）
5. 5、FC/APC-FC/APC 3 m 测试跳线 1 根
6. 6、USB A 转 USB B 数据线（1.5 m）1 根
7. 7、以太网线（1.5 m）1 根